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研究方向
The research direction
大规模集成电路测试
可靠性评价
个人简介
About the ta
高成
职 称 研究员
行政职务
所在机构 元器件质量工程研究中心
研究方向:大规模集成电路测试,可靠性评价
教育背景:
2005.9-2011.6 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,获航空宇航系统工程博士学位
1998.9-2001.7 北京航空航天大学电子工程系,获信号与信息系统硕士学位
1990.9-1994.7 北京航空航天大学电子工程系,获电子工程学士学位
奖励与荣誉:
2005年军队科技进步三等奖
2007年北航教学成果一等奖
2007年获国防科工委国防科学技术进步二等奖
2014年获北航教学成果三等奖
学术成果:
担任总装军用元器件北京第二检测中心、DPA实验室和中航工业元器件检验站常务副主任职务,负责型号工程用元器件定型鉴定检测、筛选、DPA、FA等方面技术和管理工作,从事元器件可靠性相关研究,主持包括国家自然科学基金、总装预研、国防技术基础等元器件可靠性相关研究项目30多项,发表SCI与EI论文10余篇,论著一部。
工作日 9:00 —17:30
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